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Analyse von Dreiphasensystemen mit den MSOs der Serien 5 und 6

Entwerfen Sie effizientere Antriebssysteme mit Drehstrommotoren besser und schneller. Die Analyse-Lösung IMDA von Tektronix unterstützt Ingenieure dabei mit der Bereitstellung einer vollständig aufeinander abgestimmte Power Solution. Diese entsteht gemeinsam mit der intuitiven und großen Benutzeroberfläche, sechs oder acht analogen Eingangskanälen, dem „HighRes“-Modus (16 Bit) auf der 5er Serie MSO sowie dem Probing und weiterführender Analysesoftware.

Lernen Sie die Herausforderungen sowie aktuelle und zukünftige messtechnische Lösungen kennen. Aufgrund der exklusiven Veranstaltung, haben Sie die Möglichkeit direkt zum Thema mit unseren Messtechnik-Experten und Ihren Kollegen aus diesem Bereich zu diskutieren. 

Donnerstag, 23. April 14:00 - 15:00h
und Dienstag, 28. April 10:30 -11:30h

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Analyse von Dreiphasensystemen mit den MSOs der Serien 5 und 6

Entwerfen Sie effizientere Antriebssysteme mit Drehstrommotoren besser und schneller. Die Analyse-Lösung IMDA von Tektronix unterstützt Ingenieure dabei mit der Bereitstellung einer vollständig aufeinander abgestimmte Power Solution. Diese entsteht gemeinsam mit der intuitiven und großen Benutzeroberfläche, sechs oder acht analogen Eingangskanälen, dem „HighRes“-Modus (16 Bit) auf der 5er Serie MSO sowie dem Probing und weiterführender Analysesoftware.

Lernen Sie die Herausforderungen sowie aktuelle und zukünftige messtechnische Lösungen kennen. Aufgrund der exklusiven Veranstaltung, haben Sie die Möglichkeit direkt zum Thema mit unseren Messtechnik-Experten und Ihren Kollegen aus diesem Bereich zu diskutieren. 

Donnerstag, 23. April 14:00 - 15:00h
und Dienstag, 28. April 10:30 -11:30h

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Dienstag, 22. Oktober 2019 
Ort: Golden View, Zürcherstrasse 59, 8800 Thalwil
Kosten: keine

 Anmeldeschluss: 15.10.2019

Sprache: Deutsch, Slides: Englisch
Anreise: kostenlose Parkmöglichkeiten rund um das Silvergate Gebäude,
Bushaltestelle Thalwil Böni 200m

Agenda (Details siehe unten)

09:00 - 09:30 - Anreise, Willkommenskaffee
09:30 - 10:30 - Teil 1: Konformitätstests von seriellen Bussen wie USB 2.0
10:30 - 11:00 - Pause
11:00 - 11:45 - Teil 2: Messungen an neuen Halbleitermaterialien
11:45 - 13:00 - Mittagessen
13:00 - 13:45 - Teil 3: Korrelationen von Zeit- und Frequenzbereich 
13:45 - 14:30 - Teil 4: DC Stromversorgung als Fehlerquelle  
14:30 - 15:00 - Pause
15:00 - 15:45 - Teil 5: Programmierung von Messgeräten mit Python  
15:45 - 16:00 - Zeit für Fragen und Diskussionen
16:00                Ende und Abreise

Teil 1: Konformitätstests von serieller Hochgeschwindigkeitskommunikation am Beispiel von USB 2.0

Die Standards für digitale Schnittstellen der nächsten Generation (serielle Schnittstellen, Speicher- und Anzeigeschnittstellen usw.) verschieben die Grenzen für heutige Tools zur Konformitätsprüfung und Fehlersuche immer weiter. Hieraus entstehen mehrere Probleme beim Entwurf schneller Sende- und Empfangsschaltungen, u. a.

• eingeschränkter Zugang zu Signalen aufgrund der kleineren Bauelementeabmessungen
• Validierung neuer Funktionen zur Signalcodierung und -entzerrung bei Signalisierungsschnittstellen
• So viele Validierungstests bei so wenig verfügbarer Zeit!

Das Seminar zeigt den Aufbau und die Durchführung eines Konformitätstests am Beispiel von USB 2.0. Weiter werden Möglichkeiten aufgezeigt, wie die Fehlerbehebung mit Tools wie Protokolldekodierung und visuelle Trigger funktionieren, wenn Konformitätsmessungen fehlschlagen.

Teil 2: Korrelationen zwischen Zeitbereich und Frequenzbereich im Oszilloskop

Ein Oszilloskop stellt ein Signal über der Zeit dar. Der Spektrumanalyzer visualisiert das Signal im Frequenzbereich. Moderne Oszilloskope vereinen beide Messgeräte in einem und bieten so Möglichkeiten, die weit über die Standard FFT Funktion hinaus gehen. 

In diesem Seminar sehen Sie, wie einfach und schnell die Zusammenführung zwischen Zeit- und Frequenzbereich funktioniert und was daraus für neue Analysemöglichkeiten entstehen. 

Teil 3: Messungen an neuen Halbleitermaterialien
wie z. B. SiC und GaN

Neue Halbleitermaterialien, wie z. B. SiC und GaN, bringen häufig ganz spezielle Probleme bei der Entwicklung mit sich:

• Die DC-Charakterisierung von Halbleitern erfordert umfangreiche IV-, CV- und schnelle gepulste Messungen.
• Das Testen von Hochleistungs-Halbleiterkomponenten verstärkt den Bedarf an höheren Spannungen und Leistungspegeln, kürzeren Schaltzeiten, höheren Spitzenströmen und kleineren Leckströmen.

In diesem Seminar lernen Sie die Hauptvorteile dieser Technologien kennen. Wir stellen einen Vergleich zu traditionellen Halbleitern her und zeigen die Unterschiede in der Messtechnik.

Teil 4: DC Stromversorgung als Fehlerquelle

DC Stromversorgungen verursachen oft Fehler auf digitalen Schaltungen. Sie führen zu geschlossenen Augendiagrammen, verursachen Signalrauschen auf Datenbussen und sind Quellen von Jitter. 

Die Untersuchung der Stromversorgung bringt wichtige Informationen hervor und hilft Ihnen bei der Fehlersuche.

In diesem Teil lernen Sie was benötigt wird, um eine Versorgungsspannung qualitativ zu beurteilen und als Fehlerquelle auszuschliessen.

Teil 5: Programmierung von Messgeräten am Beispiel von Python

Die Automatisierung und die Einbindung in Systeme gehört bei Messgeräten schon lange zur Standard Anwendung. Die Programmierung der Geräte ist in den Handbüchern umfangreich dokumentiert. Trotzdem sind die Hürden mit der Programmierung zu beginnen nicht immer leicht. Benutze ich eine VISA Schnittstelle oder doch lieber ein Socket Server? Programmiere ich mit den SCPI Kommandos oder besser mit TSP? Welche Programmiersprache soll verwendet werden? 

Dieses Seminar liefert Antworten anhand einfacher Programmierbeispielen.

Wir freuen uns auf Ihre Teilnahme.

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