Événement
Sindex 2025 | Expo BERN | 2 - 4 SEPTEMBRE 2025
En tant que rendez-vous le plus important de la branche, la SINDEX présente les tendances, les innovations et les technologies clés de demain et couvre aussi bien les composants individuels que les solutions globales.
Venez nous rendre visite au salon SINDEX à Berne - Hall 3.0 Stand F31
Réservez votre billet ici: https://online.bernexpo.ch/webshop/258/tickets
Code billet gratuit: 7974703952
Nous vous attendons avec impatience!
Save the date : SRF invite au « PostNAB Show » (public)
Le mercredi 18 juin 2025 entre 10 et 16 heures au Studio 5 à Zurich-Leutschenbach.
Les principales nouveautés du NABShow de cette année à Las Vegas sont à découvrir et à tester. L'accent sera mis sur l'audio, la vidéo, l'éclairage, la production dans le cloud, les technologies de transformation, la production virtuelle, augmentée et à distance ainsi que les petites solutions intelligentes.
En outre, les participants pourront assister à des conférences passionnantes données par les exposants et les spécialistes du SRF, qui leur donneront un aperçu des nouvelles technologies, des tendances du marché et des processus de production.
Inscription : Les personnes intéressées peuvent s'adresser par e-mail à postnabshow@srf.ch.
Embedded Computing Conference 2025
La conférence annuelle Embedded Computing Conference est devenue un lieu de rencontre important pour le secteur. Les spécialistes s'informent des derniers développements lors des nombreux exposés.
Exposants : entreprises membres de swissT.net, hautes écoles et entreprises intéressées, actives dans le domaine de l'informatique embarquée.
Set-up : événement d'une journée axé sur la technologie dans le domaine de l'informatique embarquée, exposés techniques en plusieurs flux, exposition.
Réjouissez-vous d'un programme informatif et intéressant.
Nous nous réjouissons de vous accueillir !
Inscrivez-vous gratuitement dès maintenant : ECC le 27.05.2025 à Winterthur !
Séminaire sur la métrologie le 28 novembre 2024 à Lausanne
Séminaire sur la métrologie
Défis de la mesure du courant & validation des convertisseurs
Nous vous invitons à participer à notre séminaire gratuit:
Le 28 novembre 2024 à Lausanne
(Les langues de séminaire à Lausanne sont: Le matin avec Tektronix est en français et la présentation Power Point est en anglais. L'après-midi avec Hioki est en anglais et la présentation Power Point est en anglais)
Il s'agit d'un événement d'une journée que nous organisons en collaboration avec nos partenaires Tektronix et HIOKI. Notre événement comprend des exposés techniques sur la caractérisation et la validation des convertisseurs, sur les défis de la mesure de la puissance et du courant, ainsi que des exercices pratiques.
Rencontrez nos spécialistes produits de Tektronix et HIOKI et informez-vous sur les nouveaux produits et les innovations dans le domaine de la métrologie.
Le programme:
Contenu de 8h30 à 12h30 avec Tektronix Monsieur Pierre Dupont:
L’électronique de puissance connait une mutation profonde avec l’avènement des transistors GaN et SiC, rendant possible l’émergence de convertisseurs plus petits, plus fiables et aux meilleurs rendements.
De nombreuses industries ont déjà commencé a bénéficier de cette technologie, notamment la mobilité électrique, les énergies renouvables, ou encore les data centers.
La caractérisation et la validation de ces convertisseurs impose aux ingénieurs une attention particulière du fait des commutations rapides. Cela passe par l’étude des tensions flottantes type high side Vgs ou bootstrap, ainsi que l’évaluation des pertes en test double pulse.
Dans ce séminaire, Tektronix vous présentera ses dernières innovations notamment sa sonde isolée a forte rejection de mode commun, ainsi que sa suite de test double pulse automatisée, permettant une validation rapide de vos conceptions a base de wide bandgap
Contenu de 13h30 à 16h00 avec HIOKI Monsieur Ralf Peters:
Défis de la mesure de puissance: fréquences porteuses élevées, erreurs de phase, interférences de bruit, tensions élevées.
Défis de la mesure de courant: quelle méthode de mesure est adaptée à la mesure de puissance? Explication de l'influence du retard de phase dans les mesures de puissance de précision et de la manière dont il est compensé. Mesure sur les bobines / Mesure des pertes dans les bobines à des fréquences porteuses élevées de manière précise et simple. Détermination précise du rendement des applications basées sur des semi-conducteurs SiC et GaN.
Exemples pratiques avec Hioki.
Nous vous attendons avec impatience!
Inscription gratuite:
Lien vers l'inscription: Lausanne, le 28 novembre 2024
La participation est gratuite et incluant le café, les boissons et le déjeuner.
Séminaire sur la métrologie le 26 novembre 2024 à Thalwil
Séminaire sur la métrologie
Défis de la mesure du courant & validation des convertisseurs
Nous vous invitons à participer à notre séminaire gratuit:
Le 26 novembre 2024 à Thalwil
(La langue de séminaire est allemand. Les slides sont en anglais)
Il s'agit d'un événement d'une journée que nous organisons en collaboration avec nos partenaires Tektronix et HIOKI. Notre événement comprend des exposés techniques sur la caractérisation et la validation des convertisseurs, sur les défis de la mesure de la puissance et du courant, ainsi que des exercices pratiques.
Rencontrez nos spécialistes produits de Tektronix et HIOKI et informez-vous sur les nouveaux produits et les innovations dans le domaine de la métrologie.
Le programme:
Contenu de 8h30 à 12h30 avec Tektronix Monsieur Pierre Dupont:
L’électronique de puissance connait une mutation profonde avec l’avènement des transistors GaN et SiC, rendant possible l’émergence de convertisseurs plus petits, plus fiables et aux meilleurs rendements.
De nombreuses industries ont déjà commencé a bénéficier de cette technologie, notamment la mobilité électrique, les énergies renouvables, ou encore les data centers.
La caractérisation et la validation de ces convertisseurs impose aux ingénieurs une attention particulière du fait des commutations rapides. Cela passe par l’étude des tensions flottantes type high side Vgs ou bootstrap, ainsi que l’évaluation des pertes en test double pulse.
Dans ce séminaire, Tektronix vous présentera ses dernières innovations notamment sa sonde isolée a forte rejection de mode commun, ainsi que sa suite de test double pulse automatisée, permettant une validation rapide de vos conceptions a base de wide bandgap
Contenu de 13h30 à 16h00 avec HIOKI Monsieur Ralf Peters:
Défis de la mesure de puissance: fréquences porteuses élevées, erreurs de phase, interférences de bruit, tensions élevées.
Défis de la mesure de courant: quelle méthode de mesure est adaptée à la mesure de puissance? Explication de l'influence du retard de phase dans les mesures de puissance de précision et de la manière dont il est compensé. Mesure sur les bobines / Mesure des pertes dans les bobines à des fréquences porteuses élevées de manière précise et simple. Détermination précise du rendement des applications basées sur des semi-conducteurs SiC et GaN.
Exemples pratiques avec Hioki.
Nous vous attendons avec impatience!
Inscription gratuite:
Lien vers l'inscription: Thalwil, le 26 novembre 2024
La participation est gratuite et incluant le café, les boissons et le déjeuner.
